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| 特點： ◆ 采用分光鏡設計，減少光損失，提高成像清晰度，使光線均勻照射物體表面 ◆ 同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影，從而減少干擾部分。 |
應用： ◆ 此系列光源適用于表面反射度超高的物體，如金屬、玻璃、晶體等表面劃傷的檢測；芯片和硅片的破損檢測。 ◆ Mark點定位 ◆ 包裝條碼識別 |
| 光源結構 | 工作簡圖 | 應用實例 |
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| SF | TZ | XX*XX |
| 上海仕風 | 同軸光源 | 長*寬 |
| 型號 | 顏色 | 序號 | 功率 | 備注 |
| SF-TZ-18*18 | ●●●● | 1 | 24V/2.7W | |
| SF-TZ-30*30 | ●●●● | 2 | 24V/3.5W | |
| SF-TZ-50*50 | ●●●● | 3 | 24V/3.8W | |
| SF-TZ-70*70 | ●●●● | 4 | 24V/9.8W | |
| SF-TZ-100*100 | ●●●● | 5 | 24V/12W | |
| SF-TZ-150*150 | ●●●● | 6 | 24V/17.6W | |
| SF-TZ-200*200 | ●●●● | 7 | 24V/20.8W |
